電壓擊穿試驗儀 介電常數(shù)高頻
電壓擊穿試驗儀 介電常數(shù)高頻
主要技術(shù)特性
1.雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
2.雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3.雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4.自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5.全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6.DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
7.計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
8、使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。
電壓擊穿試驗儀
概述
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品，它采用了數(shù)顯微測量裝置，因而讀數(shù)方便，數(shù)據(jù)。
測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。
電壓擊穿試驗儀
滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
電壓擊穿試驗儀
值測量范圍
2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔
固有誤差
≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）
≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差
≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）
